Machine Learning & Détection de bugs : un duo prometteur ?
Source : Le comptoir du hardware
Publié le : lundi 24 juillet 2017 à 08:05
Améliorer la conception de ses puces via une batterie de tests élaborée par un programme, tel fut le but d'ARM qui ne manque décidément pas d'idées lors du lancement de son projet il y a deux ans. Et quand on parle d'élaboration des tests par le programme, cela signifie bien que l'homme n'y a plus son mot à dire...